重测性良好：由计算机程控，准确量测，所以不会造成误判、漏测，增加生产线的困扰。
其测试时间短：一片拼装300个零件的电路板，测试时间短到3~4秒钟。
测试治具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其首要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具。
探头的选择主要基于IC测试治具电路板的中心距和测点的形状。待在PCB板上测试的点越近，所选探针的外径越薄。目前国内探头质量正常。实际上，许多所谓的台湾探测器都是我国制造的。
一般来说，国产0.31mm及以上探头经过实验，实验次数可确保在20～15万次。虽然产品据说是100万倍，但实际使用效果在这个水平上稍高一些。国内外产品的区别是电镀涂层的耐磨性。因为针的材料是进口的原材料，所以进口产品和国产产品没有区别。
IC测试治具探头一般有多种标准。针主要由三部分组成：一部分是针管，主要用铜合金镀金；另一部分是弹簧，主要用钢琴丝和弹簧钢镀金；第三部分是针，主要用工具钢（SK）镀镍或镀金。上述三个部分组装成探针。
IC测试治具的探针主要在这里同享。此外，不同包装形式的探头的标准也不同。为了确保探头符合要求，有必要对符合要求的探头类型进行认证，确保实验顺利完成。探针是集成电路测试中的一个重要组成部分，因此，为了确保测试的性能，我们应该愈加注重探针的选择和购买。
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